mardi 11 novembre 2014

Congrès International de Métrologie 2015




Conférence réservée aux professionnels
Du 21 septembre 2015 au 24 septembre 2015 à Paris - France 


Ce carrefour d’échanges entre industriels et scientifiques propose un programme varié avec :
• des conférences et des tables rondes,
• une exposition des innovations technologiques et des professionnels de la mesure,
• des visites techniques en entreprise.

Ce congrès permet à tous de :
• suivre les évolutions des techniques, les avancées R&D et les applications industrielles,
• comprendre comment la mesure améliore les processus industriels et la maîtrise des risques.

Son public est multiple et industriel à près de 70 % :
• des utilisateurs de moyens de mesure de toutes industries et laboratoires,
• des responsables fiabilité et qualité, managers et décideurs,
• des constructeurs d’appareils de mesure,
• des enseignants et chercheurs.

Les nouveaux thèmes des tables rondes industrielles
• la métrologie de demain
• les exigences ISO 9001:2015
• sécurité et métrologie dans l’agro-alimentaire
• l’externalisation de la métrologie
• la métrologie sensorielle
• les nanotechnologies
• production et métrologie dans l’environnement pharmaceutique et biologique  



Le CIM 2015 se tiendra du 21 au 24 septembre 2015 à Paris en conjonction avec le salon Enova.

Télécharger la présentation de l’Appel à conférence du CIM 2015:
http://www.metrologie2015.com/files/pdf/AppelAConf-CIM2015.pdf


Contacts
  info@cfmetrologie.com

 
Pour plus d’information :
www.metrologie2015.com
 

Aucun commentaire:

Enregistrer un commentaire